Hot Disk技術(shù)
發(fā)表時(shí)間：2019-09-08
現(xiàn)有的瞬態(tài)平面熱源(TPS)方法可以在一次測量中快速、準(zhǔn)確、無損地檢測大多數(shù)材料的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)和比熱容。導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)是直接測定的，而比熱是通過前兩個(gè)結(jié)果計(jì)算得出。
TPS方法的一個(gè)關(guān)鍵是它是絕對的方法，不需要重復(fù)校準(zhǔn)或使用標(biāo)準(zhǔn)樣品。它是高度靈活的，只需要一到兩件樣品來測試，每件僅需要一個(gè)適用于Hot Disk雙螺旋傳感器的平面。利用Hot Disk熱導(dǎo)儀，樣品可以按原樣進(jìn)行測試，不需要固定的樣品幾何形狀，接觸劑或表面修改。
為了強(qiáng)調(diào)這項(xiàng)技術(shù)的穩(wěn)健性，許多解釋和評估這項(xiàng)技術(shù)的論文已經(jīng)在多個(gè)科學(xué)期刊上發(fā)表。自2008年以來，該方法完成了ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn)，并在過去的幾年中提交和接受了數(shù)以千計(jì)的文獻(xiàn)利用Hot Disk系統(tǒng)獲得結(jié)果。
在本節(jié)中，我們將簡要介紹Hot Disk AB的歷史。此外，還會介紹和鏈接關(guān)鍵文獻(xiàn)。我們一直致力于讓我們的用戶，現(xiàn)在和未來，更好地理解強(qiáng)大的Hot Disk技術(shù)及其帶來的優(yōu)勢。
