hotdisk常數(shù)分析儀測試原理
發(fā)表時間：2023-08-22
Hotdisk常數(shù)分析儀，使用一種薄層圓盤形雙螺旋結(jié)構(gòu)探針同時作為平面熱源和溫度傳感器，放置于表面光潔平整的相同被測樣品中間，探頭通電后溫度上升，探頭熱阻系數(shù)隨溫度變化而變化，測量溫升及響應時間，得到熱導率。
探頭是雙螺旋結(jié)構(gòu)，由 10（＋/-2）m 厚的金屬薄片刻蝕而成，邊緣為 7-100m 的絕緣薄膜。由于鎳、鉬具有相對較高熱系數(shù)和電阻，以及良好穩(wěn)定性而被用作探頭的金屬薄片。根據(jù)不同的使用的溫度，聚酰亞胺、云母、氮化鋁和氧化鋁都可作為絕緣薄膜。雙螺旋結(jié)構(gòu)的圓形探頭的寬度為 0.2（＋/-0.03），其半徑為 15mm 或更小；寬度為 0.35（＋/-0.05）的探頭有更大的半徑。
雙螺旋結(jié)構(gòu)的探頭作為加熱和傳感元件。針對不同的樣品尺寸探頭半徑從 4－60mm不平衡電橋用來記錄探頭電阻增加值的電路圖。Rs 代表串聯(lián)電阻，RL 是探頭引線的總電阻，R0 是探頭瞬態(tài)加熱前的電阻，△R 是探頭在瞬態(tài)加熱時的電阻增加值，△U 是由于探頭電阻增加而產(chǎn)生的不平衡電壓。
